Značka: Mikroskopia atomárnych síl (AFM – Atomic Force Microscopy)

Je to elektrónový mikroskop disponujúci niekoľko sto-tisíc násobným priblížením (v závislosti od režimu -nízke/vysoké vákuum). Je rozšírený o prvkový analyzátor EDS (angl. energy dispersive X-ray spectrometer). Oproti optickému mikroskopu, ktorý dokáže priblížiť vzorku na úrovni mikrometrov, je navyše možné zistiť aj prítomnosť väčšiny prvkov z periodickej sústavy od bóru vyššie (teda všetkých prvkov okrem H, He, Li a Be). Výsledné snímky sú čiernobiele (vykonštruovaný obraz z odrazených elektrónov). Zariadenie umožňuje jednoduché zameranie presného miesta merania pomocou zabudovanej kamery. Prvková analýza uskutočnená formou mappingu priradí prvkové zloženie presnému miestu merania. Je vhodná aj na vzorky s úplne neznámym zložením. Výhodu možnosti práce tohoto zariadenia je, že v móde Low vacuum vzorky nemusia byť vodivé (pokovené). Prístroj je majetkom Slovenskej národnej galérie a je dlhodobo umiestnený na FCHPT STU v rámci spolupráce…