Popis:
Je to elektrónový mikroskop disponujúci niekoľko sto-tisíc násobným priblížením (v závislosti od režimu -nízke/vysoké vákuum). Je rozšírený o prvkový analyzátor EDS (angl. energy dispersive X-ray spectrometer). Oproti optickému mikroskopu, ktorý dokáže priblížiť vzorku na úrovni mikrometrov, je navyše možné zistiť aj prítomnosť väčšiny prvkov z periodickej sústavy od bóru vyššie (teda všetkých prvkov okrem H, He, Li a Be). Výsledné snímky sú čiernobiele (vykonštruovaný obraz z odrazených elektrónov). Zariadenie umožňuje jednoduché zameranie presného miesta merania pomocou zabudovanej kamery. Prvková analýza uskutočnená formou mappingu priradí prvkové zloženie presnému miestu merania. Je vhodná aj na vzorky s úplne neznámym zložením.
Výhodu možnosti práce tohoto zariadenia je, že v móde Low vacuum vzorky nemusia byť vodivé (pokovené).
Prístroj je majetkom Slovenskej národnej galérie a je dlhodobo umiestnený na FCHPT STU v rámci spolupráce na výskume a vzdelávaní medzi FCHPT STU a SNG, zastrešenej Zmluvou o spolupráci z r. 2020.
Služby:
Zariadenie umožňuje pracovať vo dvoch módoch detektorov – zameranie len na topografiu (povrch) alebo zameranie aj na rôznorodosť zloženia. Na rozdiel od metódy XRF, SEM-EDS dokáže snímať aj prítomnosť prvkov ako uhlík, dusík či kyslík (napr. celulóza v textíliách alebo papieri). Hoci je samotné meranie takmer úplne nedeštruktívne, je nevyhnutný odber malého množstva vzorky napr. Odlúpenej časti z maľby alebo plastiky. Spracovaním vzorky a jej zaliatím do živice sa získava vzorka vhodná na skúmanie pomocou tohoto zariadenia. Výsledky SEM-EDS analýzy je vhodné kombinovať so spektrálnymi metódami Raman/FTIR.
Kontaktná osoba:
doc. Ing. Radko Tiňo, PhD., Ing. Pavol Gemeiner, PhD., Ing. Michal Oravec, PhD., Ing. Katarína Kučíková, PhD.
radko.tino@stuba.sk
pavol.gemeiner@stuba.sk
michal.oravec@sng.sk
katarina.kucikova@stuba.sk