Popis:
Mikroskop umožňuje vďaka svojej konfigurácii reálne zväčšenia 1 000 000x, teda reálne pozorovanie objektov od 1 nm. Kombinácia detektorov poskytuje široké možnosti spracovania obrazu. Gentle beam mód je šetrný k materiálom, ktoré sú termicky citlivé a neznesú vysoké urýchľovacie napätia. Unikátnou je kombinácia s kryogénnym príslušenstvom, ktoré umožňuje merať aj vlhké vzorky alebo disperzie aj za vysokého vákua, čím sa nestráca kvalita obrazu a neznižuje sa rozlišovacia schopnosť mikroskopu. Kryogénny mód je mimoriadne vhodný pre biológiu, zdravotníctvo, ale aj potravinárstvo a celý rad ďalších oblastí, ktoré vyžadujú pozorovanie kvapalných vzoriek pri vysokých zväčšeniach. V kryomóde rovnako ako aj za „normálnych podmienok “ je dostupná Röntgenová analýza.
Technická špecifikácia:
- COLD FEG katóda
- rozlíšenie od 1 nm
- dva detektory pre spätne odrazené elektróny (BEI)
- dva detektory pre sekundárne elektróny (SEI)
- EDS analyzátor
- urýchľovacie napätie 0,1 – 30 kV
- plazmové čistenie
- prvkový mapping pozorovanej oblasti
- možnosť merať v kryogénnom móde
- možnosť úpravy povrchu vzorky lúčom argónových iónov
- Gentle beam mód
Služby:
Kontaktná osoba: Ing. Katarína Tomanová, PhD.
katarina_tomanova@stuba.sk